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常问问题
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故障安全型 ET200S 模块的测试脉冲会有什么影响 ？
文档编号：44452714|
文档类型：常问问题|
发布时间：2023年12月19日
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此常问问题介绍故障安全型 ET200S 模块的测试脉冲，有助于评估那些根据需要使用了和能更好的参数化此功能的模块的行为。
描述
为了及时地检测短路,接地等故障，故障安全数字模块会有规律地执行位模式测试。
为实现位模式测试，在 F-DOs 模块（或 F-DIs 模块上的传感器电源）输出短测试脉冲。
下面的文档有助于评估那些根据需要使用了和能更好的参数化此功能的模块的行为。
bit_pattern_test_en.pdf ( 1446 KB )
搜索条目
dark test, light test, dark period, light period, read-back time,
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